Systém M2 pro zpracování dat z 2D - s detekcí hran (63AAA407)
Vaša cena bez DPH | 88 128 Kč |
DPH: | 21% |
Jednotka: | ks |
Kód 1: | 63AAA407 |
Značka: | Mitutoyo |
Popis
Popdora čistého a intuitivního designu
Design uživatelského rozhraní softwaru M2 software znamená, že strávíte více času měřením a méně času čtením příruček. Spojením známé uživatelské zkušenosti s aktuálními zvyklostmi dotykové obrazovky lze software M2 rychle integrovat do Vašeho procesu a být přístupný široké škéle uživatelů.
Pokročilá nástrojová lišta nitkového kříže.
U systémů s hranovým optickým sensorem jsou k dispozici nitkové kříže "jednoduché" i "automatické detekce hrany". Senzor "automatické detekce hrany" automaticky snímá body na hranách při přechodu světla a tmy. Systém M2’s EdgeLogic™ (platí pouze pro systémy s hranovým senzorem) umožňuje ovládání počátečních a koncových měřicích příkazů pomocí gest. Spouštějte a dokončujte měření rychle, bez nutnosti přímé softwarové interakce.
Kromě běžného rozhraní pro ovládání myší, umožňuje rozšířená logika Multi-Touch všestranné posouvání a zvětšovánízobrazení aktivní součásti. Efektivitu konstrukce prvků, manipulace s daty prvků a vytváření sestav zvýšíte jednoduchým přiblížením, přetažením nebo dvojitým kliknutím.
Grafické konstrukce “Part View”.
Vygenerujte oblíbené typy konstrukcí, jako jsou vzdálenosti a tečné přímky, přímo v samotném pohledu grafické části. Konstrukce s více podtypy lze rychle přepínat pomocí příkazu pro změnu typu prvku.
Použitelné modely: | PJ-PLUS, PH-3515F |
Systém se skládá z: | Software M2 Metrology 2osé rozhraní a 15-pinové propojovací kabely Optické vlákno a magnetický držák hranového senzoru Napájení a USB kabel, držák pro upnutí na přístroj, RAM kloub, RAM rameno, VESA adaptér (75x75mm) pro upnutí volitelného tabletu k tělu projektoru |
Funkce: | S detekcí hran |
Volitelné, ale nezbytné příslušenství: | PC All-in-One s dotykovou obrazovkou obj.č. 63AAA597 |
Funkce: | M2 software pro měřicí projektory |
Médiá
Technická špecifikácia
Parametry produktu
Provedení |
Provedení
SW+HW pro měření |